电磁干扰测试方法与诊断——揭开电子设备干扰之谜 电子设备的广泛应用已成为现代社会的重要基础，但随之而来的电磁干扰问题也日益引起人们的关注。电磁干扰不仅会影响设备的正常工作，还可能会对人体健康造成潜在危害。如何进行电磁干扰测试与诊断成为了当前亟待解决的问题。 电磁干扰测试方法的发展可以追溯到上世纪70年代，当时主要采用频谱分析法、时间域分析法等传统方法。但随着电子设备的不断更新换代，传统方法已经无法满足现代电子设备的测试需求。新的测试方法应运而生，如扫描电镜法、红外热像仪法、电磁波成像法等。 扫

共模干扰是指在电路中，两个信号共同影响同一地方，从而产生的干扰。共模干扰的产生原理很复杂，涉及到电磁场理论、电路理论、信号处理等多个方面。本文将从以下几个方面详细阐述共模干扰的产生原理。 电磁场理论 电磁场理论是理解共模干扰产生原理的基础。在电路中，电流和电压都会产生电磁场。当两个电路的电磁场重叠时，就会产生共模干扰。例如，在一条电源线上，如果同时有两个电路的电流通过，它们就会产生相互作用，从而产生共模干扰。 电路理论 电路理论是分析共模干扰产生原理的重要工具。在电路中，共模干扰产生的原因主要

什么是传导性EMI干扰 传导性EMI干扰是指电子设备之间通过导线、电缆、金属框架等物理连接途径传递的电磁干扰。这种干扰会导致电子设备之间的互相干扰，从而影响设备的正常工作。传导性EMI干扰通常是由于设备内部的高频信号在导线、电缆等物理连接途径上产生的电磁波干扰其他设备造成的。 传导性EMI干扰的来源 传导性EMI干扰的来源可以分为内部干扰和外部干扰两类。 内部干扰是指电子设备内部产生的高频信号通过导线、电缆等物理连接途径干扰其他设备。这种干扰通常是由于电子设备内部的高速开关电路、电源等部件产生